多模式原子力显微镜

多模式原子力显微镜​主要功能特点

1、扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强；

2、精密激光及探针定位装置，更换探针及调节光斑简单方便；

3、采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；

4、马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；

5、高精度样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；

6、带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针样品扫描区域；

7、模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；

8、集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用；

9、弹簧悬挂式防震方式，简单实用，抗干扰能力强。

多模式原子力显微镜主要技术指标

1、工作模式：接触模式、轻敲模式，可选配摩擦力、相位、磁力或静电力

2、样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、扫描范围：XY向20um，Z向2um

4、扫描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm

5、样品移动范围：±6.5mm

6、马达趋近脉冲宽度：10±2ms

7、图像采样点：256×256，512×512

8、光学放大倍数4X，光学分辨率2.5um

9、扫描速率0.6Hz~4.34Hz，扫描角度0~360°

10、扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

11、数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

12、反馈方式：DSP数字反馈

13、反馈采样速率：64.0KHz

14、计算机接口：USB2.0

15、运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

友好的软件界面和操作功能

1. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；

3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

4. 可任意选择样品起始扫描角度；

5. 激光光斑检测系统的实时调整功能；

6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能；

7. 可任意定义扫描图像的色板功能；

8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

FSM-AFM操作软件主要功能特点

1、可实时观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式；

3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512；

4、多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；

6、可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

7、可任意选择样品起始扫描角度；

8、激光光斑检测系统的实时调整功能；

9、针尖共振峰自动和手动搜索功能；

10、可任意定义扫描图像的色板功能；

11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

13、支持样品图片离线分析与处理功能。